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產(chǎn)品分類手持式方塊電阻測量儀,方便攜帶和測量
可與兩種類型探頭(無損型和接觸型)互換使用的手持式方塊電阻測量裝置。
只需放置/應(yīng)用探頭即可自動測量
電池連續(xù)工作時(shí)間:24小時(shí)(*使用電池時(shí))
顯示數(shù)據(jù)數(shù):最多100條(*從最新數(shù)據(jù)開始顯示)
保存數(shù)據(jù)數(shù):最多50,000個(gè)(*專用軟件顯示)
測量數(shù)據(jù)傳輸功能:USB-Mini
顯示:3個(gè)顯示單位(Ω/□、S/□、n/m[金屬膜厚度換算])、4位浮點(diǎn)數(shù)(0.000~9999)
薄膜、玻璃上的薄膜等
原則上任何樣品只要在測量范圍內(nèi)都可以測量。
薄膜材料(ITO、TCO等)
低輻射玻璃
碳納米管、石墨烯材料
金屬材料(納米線、網(wǎng)格、網(wǎng)格)
其他的
無論尺寸和厚度如何都可以測量
(*大于每個(gè)探頭的測量光斑尺寸)
<測量點(diǎn)>
無損探頭(渦流式):φ25mm
接觸式探頭(4 個(gè)探頭):9 毫米(探頭之間 3 毫米)
無損探頭(渦流法):0.5-200Ω/sq
接觸式探頭(4探頭法):0.001-4,000Ω/sq
<手持式裝置(duores®本體)>
W100×D32×H210mm
約350g 不含電池
<無損探頭>
W70×D20×H70
約170g
<接觸式探頭>
W40×D15×H50
約85g